電阻器的導電膜層通常通過氣相沉積法獲得，并且在某種程度上存在非晶結構。 根據熱力學觀點，無定形結構具有結晶的趨勢。 在工作條件或環境條件下，導電膜層中的非晶結構趨于以一定速度結晶，即，導電材料的內部結構趨于致密化，這通常會導致電阻值降低。 結晶速率隨溫度升高而增加。

　　電負載高溫老化：在任何情況下，電負載都會加速電阻器的老化過程，而電負載對加速電阻器老化的影響要比高溫的加速老化更為重要，因為 電阻器和引線帽之間的接觸部分的溫度為。該升高超過電阻器本體的平均溫度升高。 通常，溫度每升高10°C，壽命就會減少一半。 如果當電阻的溫度上升超過額定負載時溫度上升50°C，則電阻的壽命僅為正常條件下壽命的1/32。 可以通過不到四個月的加速壽命測試來評估電阻器在10年內的運行穩定性。

　　直流負載電解：在直流負載的作用下，電解會使電阻器老化。 電解在凹槽電阻器槽中發生，并且電阻器矩陣中包含的堿金屬離子在凹槽之間的電場中移位以產生離子電流。 當存在水分時，電解過程會更加激烈。

　　如果電阻膜是碳膜或金屬膜，則主要是電解氧化。 如果電阻膜是金屬氧化物膜，則主要是電解還原。 對于高電阻薄膜電阻器，電解作用會增加電阻，并且沿凹槽螺旋的一側可能會發生膜損壞。 熱潮環境下的直流負載測試可以評估電阻器基材和薄膜層的抗氧化性或抗還原性能，以及保護層的抗濕性。